Microscoape electronice cu baleiaj JEOL seria JSM-IT810

JSM-IT810 este un microscop electronic cu baleiaj cu emisie în câmp de tip Schottky (FE-SEM), prin care JEOL combină rezoluția spațială ridicată cu automatizarea. Funcția Neo Action rulează observarea și analiza EDS după ce utilizatorul fixează condițiile și zonele de măsurat, fără programare. Un pachet opțional de reglare automată calibrează mărirea, alinierea fasciculului și energia EDS cu o probă dedicată. Live-3D folosește un detector segmentat de electroni retroîmprăștiați pentru a reconstrui suprafața în timp real. Producătorul îl încadrează la microscoapele pentru inspecția semiconductorilor.

Specificații principale Microscoape electronice cu baleiaj JEOL seria JSM-IT810

• Tip: microscop electronic cu baleiaj cu emisie în câmp, Schottky
• Automatizare: funcția Neo Action pentru imagine și analiză EDS
• Reglare automată: pachet opțional: mărire, aliniere fascicul, energie EDS
• Reconstrucție de suprafață: Live-3D, detector segmentat de electroni retroîmprăștiați
• Analiză EDS: punct, zonă, hartă și linie, setate pe ecranul de observare
• Corecție trapezoidală: utilă pentru măsurători EBSD
• Specificații numerice: în broșura producătorului

Coduri și denumiri utilizate

JSM-IT810, JSM IT810, IT810, JEOL FE-SEM, JSM-IT710HR, JSM-IT510

Sursa datelor: JEOL, documentația oficială (www.jeol.com). Pentru varianta exactă, trimiteți-ne codul de pe plăcuță sau din proiect.